分析評価

素材の分析や性能評価には高度な専門知識と高価な設備が必要です。お客さまの要求される精度、表面粗さ、平行度、平面度などを満足していただくため、各種評価用の測定装置を導入しています。

三次元座標測定器

三次元座標測定器

長さ、高さ、穴径、平面度、Rの大きさ等を0.1μm単位で自動測定出来ます。

測定範囲:W850×D1000×H600

デジタルマイクロスコープ

デジタルマイクロスコープ

観察・計測・撮影などをより正確かつスピーディーに操作できます。
二次元だけでなく三次元の観察も可能。
最大5000倍までの観察が可能です。

粒度分布測定装置

粒度分布測定装置

レーザー光による回折・散乱光の強度分布パターンから粒子径分布を算出します。

平均粒子径が50nm~2mmのものまでの測定が可能です。

CNC画像測定装置

 輪郭形状測定

大きさ、穴径、角度、穴ピッチ、段差など
μm単位で自動測定出来ます

表面粗さ測定器

表面粗さ測定
表面の粗さを0.001mm単位で測定出来ます。穴の内面、溝の底面も可能です。

セラミック定盤・直角度測定器他

直角度測定
1μm単位で測定出来ます。

電気マイクロメーター

微小比較測定
0.1mm単位で測定出来ます。
平面度、平行度の測定などに利用します。

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公的試験研究機関との連携

走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡
((地独)京都市産業技術研究所)

弊社では、蛍光X線分析装置、熱分析装置、熱伝導率測定装置、X線回折装置、走査電子顕微鏡等による評価については主として地方独立行政法人京都市産業技術研究所(http://tc-kyoto.or.jp/)において実施しています。また、弊社社員の技術力アップのための社員派遣や共同研究等を実施しています。  
一方、ファインセラミックスのJISに基く専門的な試験に関しては、一般財団法人ファインセラミックスセンター(名古屋市,http://www.jfcc.or.jp/)等の公的試験研究機関に依頼しています。

 

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〒607-8322 京都市山科区川田清水焼団地町3番2号
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